Effet du faible débit de dose sur les technologies bipolaires

Audience : Adulte - Grand Public

Le Pitch

Littérature française

Les technologies bipolaires jouent des rôles primordiaux dans les systèmes spatiaux soumis à des conditions radiatives. Dans un environnement ionisant, le courant de base des transistors bipolaires augmente et le gain en courant diminue. Pour une même dose totale, de nombreuses technologies bipolaires se dégradent plus à faible débit de dose qu'à fort débit ce qui pose un problème au niveau du durcissement. Des méthodes de prédiction de la réponse faible débit de dose, telles que les irradiations en températures, ont données des résultats prometteurs pour l'identification de technologies montrant une augmentation de la dégradation à faible débit de dose. Cependant, aucun test s'appliquant à toutes les technologies bipolaires n'a été identifié. En se basant sur un travail expérimental, une explication physique des phénomènes se produisant au cours d'irradiations à températures élevées a été donnée et un modèle de dégradation a été développé. A partir de l'observation des résultats obtenus, une nouvelle approche du test de composants est proposée. Cette approche est basée sur la commutation d'un fort débit de dose vers un faible débit. Afficher moinsAfficher plus

Détails du livre

Titre complet

Effet du faible débit de dose sur les technologies bipolaires: Vers le test de composants bipolaires pour des applications spatiales

Auteur

Editeur

Format

Broché

Publication

12 avril 2011

Audience

Adulte - Grand Public

Pages

Taille

22.9 x 15.2 x 1 cm

Poids

ISBN-13

9786131563621

Effet du faible débit de dose sur les technologies bipolaires

59,00 €

Le Pitch

Littérature française

Les technologies bipolaires jouent des rôles primordiaux dans les systèmes spatiaux soumis à des conditions radiatives. Dans un environnement ionisant, le courant de base des transistors bipolaires augmente et le gain en courant diminue. Pour une même dose totale, de nombreuses technologies bipolaires se dégradent plus à faible débit de dose qu'à fort débit ce qui pose un problème au niveau du durcissement. Des méthodes de prédiction de la réponse faible débit de dose, telles que les irradiations en températures, ont données des résultats prometteurs pour l'identification de technologies montrant une augmentation de la dégradation à faible débit de dose. Cependant, aucun test s'appliquant à toutes les technologies bipolaires n'a été identifié. En se basant sur un travail expérimental, une explication physique des phénomènes se produisant au cours d'irradiations à températures élevées a été donnée et un modèle de dégradation a été développé. A partir de l'observation des résultats obtenus, une nouvelle approche du test de composants est proposée. Cette approche est basée sur la commutation d'un fort débit de dose vers un faible débit. Afficher moinsAfficher plus