Étude des phénomènes électrothermiques

Audience : Adulte - Grand Public

Le Pitch

Littérature française

PrésentationLes mémoires PC-RAM intègrent entre deux électrodes un matériau à changement de phase, le chalcogénure Ge2Sb2Te5, qui peut basculer réversiblement entre un état amorphe résistif (OFF) et un état cristallin conducteur (ON). Le but de la thèse est d'étudier les phénomènes électrothermiques intervenant lors de l'amorphisation et la cristallisation. Nous caractérisons les différences thermiques et électriques des deux phases, notamment par la mesure de leur conductivité thermique (méthode 3 ), et par le tracé des caractéristiques électriques I(V). Nous étudions également en détail les mécanismes de la transition OFF ON, pour laquelle nous mettons en évidence la formation d'un filament amorphe conducteur instable. Nous présentons les résultats des tests dynamiques effectués sur nos cellules microniques et submicroniques. Enfin, nous analysons quelques modélisations et simulations numériques, en montrant la difficulté expérimentale àéviter la fusion lors du processus de cristallisation. Afficher moinsAfficher plus

Détails du livre

Titre complet

Étude des phénomènes électrothermiques: Lies à l'amorphisation et à la cristallisation d'un matériau à changement de phase pour application

Auteur

Editeur

Format

Poche

Publication

01 mars 2011

Audience

Adulte - Grand Public

Pages

Taille

22 x 15 x 15 cm

Poids

ISBN-13

9786131562969

Étude des phénomènes électrothermiques

69,00 €

Le Pitch

Littérature française

PrésentationLes mémoires PC-RAM intègrent entre deux électrodes un matériau à changement de phase, le chalcogénure Ge2Sb2Te5, qui peut basculer réversiblement entre un état amorphe résistif (OFF) et un état cristallin conducteur (ON). Le but de la thèse est d'étudier les phénomènes électrothermiques intervenant lors de l'amorphisation et la cristallisation. Nous caractérisons les différences thermiques et électriques des deux phases, notamment par la mesure de leur conductivité thermique (méthode 3 ), et par le tracé des caractéristiques électriques I(V). Nous étudions également en détail les mécanismes de la transition OFF ON, pour laquelle nous mettons en évidence la formation d'un filament amorphe conducteur instable. Nous présentons les résultats des tests dynamiques effectués sur nos cellules microniques et submicroniques. Enfin, nous analysons quelques modélisations et simulations numériques, en montrant la difficulté expérimentale àéviter la fusion lors du processus de cristallisation. Afficher moinsAfficher plus