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Etude par spectrometrie mössbauer d''emission du sulfure de cadmium

Audience : Adulte - Grand Public
Le Pitch
PrésentationLe développement très remarqué des technologies basées sur l''électronique, l''optique et l''optoélectronique a été rendu possible grâce aux avancées réalisées dans les domaines de conception des semi-conducteurs et de compréhension de leurs propriétés électroniques, optiques et structurales. L''étude de ces composés se trouve confrontée à des problèmes liés à la présence et à la diffusion des imperfections. L''étude des semi-conducteurs en couches minces constitue depuis longtemps un axe majeur de la recherche scientifique. Les méthodes VPE et CVD sont très utilisées pour la croissance cristalline et la spectromètrie Mössbauer occupe une place particulière dans l''étude et la détection des défauts. Ce livre donne un résumé sur la nature des inperfections et leurs mécanismes de diffusion dans les semi-conducteurs. Il présente également une explication détaillée du principe de l''effet Mössbauer et de la technique de spectrométrie Mössbauer. Une autre grande partie de ce livre est consacrée à la présentation d''une étude détaillée sur la conception par la méthode VPE-CVD des couches minces du sulfure de cadmium (CdS) et leurs analyses par spectrométrie Mössbauer. Afficher moinsAfficher plus

Etude par spectrometrie mössbauer d''emission du sulfure de cadmium

49,00 €
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Le Pitch

PrésentationLe développement très remarqué des technologies basées sur l''électronique, l''optique et l''optoélectronique a été rendu possible grâce aux avancées réalisées dans les domaines de conception des semi-conducteurs et de compréhension de leurs propriétés électroniques, optiques et structurales. L''étude de ces composés se trouve confrontée à des problèmes liés à la présence et à la diffusion des imperfections. L''étude des semi-conducteurs en couches minces constitue depuis longtemps un axe majeur de la recherche scientifique. Les méthodes VPE et CVD sont très utilisées pour la croissance cristalline et la spectromètrie Mössbauer occupe une place particulière dans l''étude et la détection des défauts. Ce livre donne un résumé sur la nature des inperfections et leurs mécanismes de diffusion dans les semi-conducteurs. Il présente également une explication détaillée du principe de l''effet Mössbauer et de la technique de spectrométrie Mössbauer. Une autre grande partie de ce livre est consacrée à la présentation d''une étude détaillée sur la conception par la méthode VPE-CVD des couches minces du sulfure de cadmium (CdS) et leurs analyses par spectrométrie Mössbauer. Afficher moinsAfficher plus

Détails du livre

Titre complet
ETUDE PAR SPECTROMETRIE MÖSSBAUER D'EMISSION DU SULFURE DE CADMIUM
Auteur
Format
Broché
Publication
10 août 2010
Audience
Adulte - Grand Public
Pages
128
Taille
22.9 x 15.2 x 0.8 cm
Poids
200
ISBN-13
9786131526572
Livré entre : 31 juillet - 5 août
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