Modélisation et Caractérisation linéaire & nonlinéaire des filtres BAW

Audience : Adulte - Grand Public

Le Pitch

Littérature française

PrésentationDe nouvelles architectures nommées CRF (Coupled Resonator Filter) font appel à des résonateurs à ondes de volume (BAW) mais aussi à des structures utilisant d'autres couplages acoustiques. L'objectif du travail proposé est de modéliser ces structures pour obtenir des modèles de type circuit électrique. Ces modèles seront validés par des mesures sur les BAW et les CRF réalisés par nos partenaires ST Microelectronics et CEA-LETI. La première partiedes études portait sur le comportement RF sous faible et forte puissances, suivi du développement d'un modèle large bande simulé sous ADS décrivant leur comportement linéaire et nonlinéaire. La seconde partie de la thèse est orientée vers le développement d'une nouvelle méthode de test pseudo-temporelle des filtres RF qui consiste à mesurer directement leur impact sur un signal numérique grâce au paramètre EVM (Error Vector Magnitude). Ce paramètre est relié au BER et nos travaux montrent qu'il permet également de retrouver en partie les paramètres S et détecter les filtres défaillants à partir d'une seule mesure. Cette nouvelle technique permet de réduire le temps et le coût de test à des fins industrielles. Afficher moinsAfficher plus

Détails du livre

Titre complet

Modélisation et Caractérisation linéaire & nonlinéaire des filtres BAW: Et méthode pseudo-temporelle de test industriel des dispositifs RF

Auteur

Editeur

Format

Poche

Publication

02 février 2012

Audience

Adulte - Grand Public

Pages

Taille

22 x 15 x 15 cm

Poids

ISBN-13

9783841784742

Modélisation et Caractérisation linéaire & nonlinéaire des filtres BAW

59,00 €

Le Pitch

Littérature française

PrésentationDe nouvelles architectures nommées CRF (Coupled Resonator Filter) font appel à des résonateurs à ondes de volume (BAW) mais aussi à des structures utilisant d'autres couplages acoustiques. L'objectif du travail proposé est de modéliser ces structures pour obtenir des modèles de type circuit électrique. Ces modèles seront validés par des mesures sur les BAW et les CRF réalisés par nos partenaires ST Microelectronics et CEA-LETI. La première partiedes études portait sur le comportement RF sous faible et forte puissances, suivi du développement d'un modèle large bande simulé sous ADS décrivant leur comportement linéaire et nonlinéaire. La seconde partie de la thèse est orientée vers le développement d'une nouvelle méthode de test pseudo-temporelle des filtres RF qui consiste à mesurer directement leur impact sur un signal numérique grâce au paramètre EVM (Error Vector Magnitude). Ce paramètre est relié au BER et nos travaux montrent qu'il permet également de retrouver en partie les paramètres S et détecter les filtres défaillants à partir d'une seule mesure. Cette nouvelle technique permet de réduire le temps et le coût de test à des fins industrielles. Afficher moinsAfficher plus