Passer au contenu
Mon compte
Wishlist
Panier 00:00
Panier 00:00

Analyse et caractérisation optique

Audience : Adulte - Grand Public
Le Pitch
PrésentationLa présent ouvrage a pour objectif l'analyse et la caractérisation des surfaces et interfaces de trois types de matériaux, en l'occurrence le verre optique, l'acier, le silicium et quelques dépôts de couches minces sur substrats. Il s'agit d'utiliser des méthodes de caractérisation optiques et exploiter les propriétésoptiques en corrélation avec l'état de surface. Comme la connaissance de l'état de surface d'un élément ou d'un composant optique ou optoélectronique est indispensable pour atteindre la fonctionnalité voulue, les états de surfaces continuent toujours d'être considérés comme un domaine de recherche appliquée très important. Pour atteindre cet objectif on a réservé une partie à l'étude théorique du phénomène et les aspects mathématiques décrivant les paramètres de surface et l'interaction lumière-matière. Quant aux techniques utilisées, on a appliqué les techniques de diffusion de la lumière, l'ellipsométrie, l'interférométrie optique à décalage de phase et la microscopie à contraste interférentiel. Ce spectre de technique est très complémentaire et reflète le caractère expérimental de cet ouvrage. Afficher moinsAfficher plus

Analyse et caractérisation optique

54,90 €
Sélectionnez la condition
54,90 €

Le Pitch

PrésentationLa présent ouvrage a pour objectif l'analyse et la caractérisation des surfaces et interfaces de trois types de matériaux, en l'occurrence le verre optique, l'acier, le silicium et quelques dépôts de couches minces sur substrats. Il s'agit d'utiliser des méthodes de caractérisation optiques et exploiter les propriétésoptiques en corrélation avec l'état de surface. Comme la connaissance de l'état de surface d'un élément ou d'un composant optique ou optoélectronique est indispensable pour atteindre la fonctionnalité voulue, les états de surfaces continuent toujours d'être considérés comme un domaine de recherche appliquée très important. Pour atteindre cet objectif on a réservé une partie à l'étude théorique du phénomène et les aspects mathématiques décrivant les paramètres de surface et l'interaction lumière-matière. Quant aux techniques utilisées, on a appliqué les techniques de diffusion de la lumière, l'ellipsométrie, l'interférométrie optique à décalage de phase et la microscopie à contraste interférentiel. Ce spectre de technique est très complémentaire et reflète le caractère expérimental de cet ouvrage. Afficher moinsAfficher plus

Détails du livre

Titre complet
Analyse et caractérisation optique: Application aux surfaces et interfaces des matériaux diélectriques, métalliques et semiconducteurs
Editeur
Format
Broché
Publication
09 mai 2016
Audience
Adulte - Grand Public
Pages
132
Taille
22.9 x 15.2 x 0.8 cm
Poids
205
ISBN-13
9783841640321

Auteur

Livré entre : 31 juillet - 5 août
Disponible chez le fournisseur
Impression à la demande
Expédition immédiate
Chez vous entre :
Les délais de livraison ont tendance à s'accélérer ces dernières semaines, le temps indiqué peut être plus court que prévu. Les délais de livraison ont tendance à s'allonger ces dernières semaines, le temps indiqué peut être plus long que prévu.
Livraison gratuite (FR) à partir de 35,00 € de livres neufs
Retour GRATUIT sous 14 jours.
Image to render

Revendez-le sur notre application!

Aller plus loin

Vous pouvez également aimer

Récemment consultés